Analyseur multi d'éléments de terres rares de système de pompage de vide de détecteur de SDD de la Manche de Digital

Analyseur d'éléments des terres rares du système de pompage sous vide du détecteur SDD multicanal numérique

Introduction du produit

L'analyseur de fluorescence X de type HXRF-650JP est un instrument analytique haut de gamme conçu pour les métaux non ferreux, les métaux ferreux, le traitement des minerais et la fusion, ainsi que les industries géologiques.

Spécifications techniques

Gamme d'éléments mesurés : du sodium (Na) à l'uranium (U)

Plage de concentration de mesure : ppm -- 99,99 % (éléments différents, plage d'analyse différente)

État de l'objet de mesure : poudre, solide, liquide

Capacité d'analyse des éléments : Des dizaines d'éléments, du sodium (Na) à l'uranium (U), peuvent être mesurés en une seule fois

Meilleure résolution : 129eV±5eV

Meilleure précision d'analyse : RSD≤0,1 % (échantillon standard national)

Temps d'analyse : Le temps de test unique est réglable

Mode de réfrigération : réfrigération électrique, sans aucun consommable

Grande taille de la chambre d'échantillon : 400 mm x 340 mm x 80 mm

Taille de la chambre à vide d'échantillon : φ100mm×h75mm

Dimensions : 700 mm x 510 mm x 336 mm

Alimentation de fonctionnement : CA 220 V ±5 V, 50 Hz

Environnement de travail : température intérieure 15 ~ 30℃ ; Humidité relative ≤80 % (sans condensation)

Poids de la machine : 56 kg

Pcaractéristiques de performance

Efficacité d'analyse : Haute vitesse, haute précision et haute efficacité. Le logiciel d'analyse auto-développé peut effectuer simultanément l'analyse synchrone et précise de dizaines d'éléments, du sodium 11 (Na) à l'uranium 92 (U), en 1 à 120 secondes

Avantages fonctionnels :

1. Conception de l'apparence : généreuse et belle, durable, mode de protection de sécurité multiple.

2. Système de filtre de collimation : collimation + filtre multi-combinaison, commutation automatique du logiciel, répond à une variété d'applications de test.

3. Le système de traitement du signal SES (multicanal numérique) développé indépendamment est adopté pour améliorer efficacement le rapport pic à pic et rendre la mesure plus précise.

4. Système de dissipation thermique multidimensionnel : Optimiser la conception de la dissipation thermique intégrée pour améliorer les performances de dissipation thermique de l'ensemble de la machine et assurer la sécurité de fonctionnement de la source de rayons X

5. Système de sécurité contre les radiations : conception multiple anti-fuite de rayonnement, le niveau de protection contre les radiations appartient au plus élevé des produits similaires

6. Système de vide : Sélectionnez le système de vide, optimisez l'environnement de test, améliorez la précision d'analyse du magnésium, de l'aluminium, du silicium, du phosphore, du soufre et d'autres éléments légers

7. La technologie unique de surveillance de la température de mouvement assure le fonctionnement sûr et fiable de la source de rayons, prolonge efficacement sa durée de vie et réduit les coûts d'utilisation

Avantage matériel: L'ensemble des composants principaux est importé

1. Détecteur : La sonde SDD à dérive de silicium Amptek d'origine des États-Unis, avec la plus faible résolution de 129eV±5eV, une excellente linéarité énergétique et une résolution énergétique, un rapport pic à pic.

2. Tube à rayons X : puissance maximale 50 W, tension du tube 5-50 KV, courant du tube 0-1000uA ; Tube à rayons X longue durée.

3. Alimentation haute tension : puissance maximale 50 W, tension 0-50 KV, courant 0-1000uA. Stabilité de 8 heures ≤0,05 %.

4. Processeur de signal : Adoptez un processeur de signal importé, adaptez-vous à une haute résolution et à un taux de comptage élevé, un grossissement à réglage automatique, le nombre maximum : 4096.

Avantage logiciel :Version chinoise du logiciel d'analyse de fluorescence X développée conjointement par Danaher et notre société, qui intègre la méthode du coefficient empirique, la méthode du coefficient théorique α, l'ajustement linéaire, la courbe quadratique, la correction de l'intensité, la correction du contenu et d'autres méthodes d'analyse pour assurer pleinement la précision des données de test.

Configuration de l'instrument

Configuration standard du système :

1. Détecteur SDD multicanal numérique

2. Sources de rayons X

3. Alimentation haute tension

4. Système de circuit électronique rapport signal/bruit

5. Système d'amélioration du trajet optique

6. 8 collimations + 5 filtres

7. Analyseur multicanal numérique

8. Système de pompage sous vide

9. Imprimantes à jet d'encre de marque

10. Ordinateurs de marque

11. Logiciel d'analyse complète des éléments de fluorescence X

12. Godet d'échantillon et fusible

13. Alimentation régulée pour le spectre (en option)

Sélection du système :

1. Machine de broyage spéciale pour le spectre (en option)

2. Machine de fusion spectroscopique (en option)

3. Machine spéciale de fabrication de poudre pour le spectre (en option)

4. Creuset en platine pour la fusion des échantillons (en option)

5. Presse à comprimés spéciale pour spectromètre (en option)

Application du produit

Le spectromètre HXRF-650JP peut analyser les échantillons et les éléments (oxydes) suivants :